دانلود مقاله ترجمه شده با عنوان قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی- الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم، جزئیات بیشتر این محصول: عنوان انگلیسی مقاله: arallel algorithm for finding modules of
کد فایل:35700
دسته بندی: مهندسی »
مهندسی کامپیوتر
تعداد مشاهده:
13819
مشاهده
فرمت فایل دانلودی:.rar
فرمت فایل اصلی: doc, pdf
تعداد صفحات: 14
حجم فایل:883
کیلوبایت